[학부 일기] 그 외 활동/공정실습

SPTA)반도체 소자 제작 및 전기적 특성 분석(심화) _ 공정 실습 Day 2 - ILD formation & measurement & 과제

러키세미 2023. 3. 17. 15:46
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< 실습 과정 >Day 2 ) metal, ILD structure 형성 & Doping을 통한 operating

 

< 실습 과정 >

 

1. ILD Formation

 

- PECVD를 사용하여 소자를 절연시키는(전기적 short를 막아주는) oxide인 ILD를 depisition시킴

CVD 장

 

 - PECVD를 통한 ILD 형성 과정

 ① L chamber (로드락챔버)에 wafer를 넣어줌

L chamber

 

압력이 A=B가 될 때 까지 압력을 낮게 형성

위 A와 B가 동일해져야

 

③ 로봇팔을 이용하여 wafer를 옆 chamber로 이동시킴

  - 수평으로는 chamber간 이동

  - 수직으로는 상하이동을 통해 plasma를 인가할 수 있게 옮겨줌

수평으로 챔버 이동
수직으로 wafer 이

 

④ plasma인가를 위해 각 밸브를 열어 가스를 인가해주고 6분30초동안 반응 진행. 

  반응이 끝나면 장비 아래 switch는 자동 중지

기체 밸브
ILD 제작중

 

⑤ 로봇팔을 통해 wafer를 다시 제자리로 옮겨주고 모두 재정비한 뒤 wafer를 꺼내 보관함

 

 

=> 최종 2일차에 만들어낸 구조 형태

 

 

2. Measuremet 방법

(1) 빛을 이용한 두께 측정

측정 장비

 

 - 컴퓨터에서 측정 값을 fitting하면 오차범위가 10% 이내인 비슷한 값을 찾아 정보를 출력해줌

측정하면 보이는 화면

  : error값과 두께값은 위 그림에 표시된 곳에서 확인 가능 ( 위 사진 error : 0.0627 )

∴  measure > 빛을 phase shift 시키며 reflect 빛 측정 > 5 parameter 찾아 fitting 명령

                                                                                                 > 10%이내 오차 가진 그래프와 정보 출력

 

 

(2) 4 point probe를 이용한 sheet resistance 측정

 

 - sheet resistance의 단위는 Ω/□

 - 4개의 tip들 중 양 끝 tip에 전류, current source를 통해 전류를 전체를 돌아나오게 하고, 

    안쪽 두개 tip으로 전압강하를 측정. 

       -> R = ΔV/I 로 구하고, sheet resistance ≒ 4.53 x R 값으로 구할 수 있음

4 point probe

 

   => doping이 제대로 되었는지 공정 모니터링 가능

 

 - 제대로된 doping이 진행되면 100Ω/□보다 낮은 값이 측정되어야 함. 

 

 - 빈 wafer에 doping을 진행하고, sheet resistance를 측정해 보았음. 

  측정하는 5개의 point : T, C, B, L, R

      T(op) : 31.8 Ω/□

      C(enter) : 30.6 Ω/□

      B(ottom) : 28.5 Ω/□                          => doping 공정은 문제 없음을 확인

      L(eft) : 29.6 Ω/□

      R(ight) : 31.1 Ω/□  

             

 

 

3. 과제

Q1. 반도체 집적공정에서 Alignment에 대한 설명

  -> 정의&목적&실질적 진행 방법 세가지 set로 설명!

① 복수개의 mask에서 선행-후행 mask를 맞추는 것

② 정상 작동을 위해 (misalign되면 죽어버림 ..)

③ wafer 특정 지역 align key를 만들고, wafer 양 끝 global한 표식과 안쪽 lozal 표식을 맞춰 monitoring하여 빗나간 것 측정

 

 

Q2-1. PN junction을 상온에서 200℃, 다시 상온으로 온도를 바꿀 때 생기는 변화

PN junction은 반도체에 기반되어있음. 

열을 인가하면(100℃) carrier가 발생하고, 핵 phonon이 떨려 phonon scattering이 발생, leakage가 증가하게 됨 

더 열을 주면(200℃) valance band의 carrier가 conduction band에 올라가고 doping 특성 읽으며 저항처럼 됨

즉, intrinsic carrier로 인해 반도체의 특성을 잃어버림. 

상온이 되면 다시 carrier가 정상적으로 동작하게 됨!

 

Q2-2. Gate, Source, Drain에 doping을 진행해주는 이유

- gate : 전압 전달, voltage transfer

- source : channel로 carrier주기 위해 

- drain : channel에서 carrier 당겨오기 위해

 

Q3-1. ILD oxide deposition하는 방법과 이유

 - 방법 )PECVD를 사용해야 함

 - LPCVD도 가능하지만, 온도 낮추는 방법 모색해야함

 - 이유 ) 낮은 T 필요!  (∵S, D doping후 dopant profile이 변화할 수 있기에, thermal budget을 고려해야함)

 

 

 

Q3-2. ILD oxide를 chip speed를 증가시키기 위해 최적화 하는 방법

  -> 반도체 고리를 이해하자! (연결되는 공부)

 

 


  + 목을 조르는 단어 X. 나의 단어로 단순화

     열심히! 하지 말고 잘!하자

     연결되는 공부

     >>백과사전<< 공부법

 

2일차가 끝났는데, 벌써 반이나 지나갔다는 게 넘 아쉬웠네요.. 

다음 차수도 열심히 진행하고 글 써보겠습니다!

 

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