안녕하세요! '반도체 공정 및 응용'수업의 마지막 글인, packaging입니다! 반도체 공정 단계에서 가장 마지막 부분이네요 흐흐... 마지막까지 열심히 써보도록 하겠습니다!!! testing은 wafer의 각 die를 functionality적으로 잘 작동하는지 test하는 과정을 말합니다. DC test는 probe station, 현미경으로 정확하게 진행하게 됩니다. transistor는 pin 3개로 진행할 수 있습니다. (gate, source, drain) Electrical die sorting하는 방법은 다음 4개가 존재합니다. ⅰ. electrical test & wafer burn-in - DC biased test (소자 작동 범위에서) - burn-in: 소자..